Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии - Авторски колектив

Този монографичен том обединява методите за анализ на повърхности чрез Оже-спектроскопия и рентгеново фотоелектронна спектроскопия (XPS). Изданието е на руски език и е насочено към учени, студенти и професионалисти в материалознанието, физикохимията и повърхностните науки.

• Автор: Авторски колектив
• Издателство: "Мир"-Москва
• Корица: Твърда
• Език: Руски
• Година на издание: 1987
• Страници: 598
• Състояние: Отлично
• Тематика: Анализ на повърхности чрез Оже-спектроскопия и рентгеново фотоелектронна спектроскопия; насоки за материалознание, повърхностни анализи и интерпретация на спектри

Този труд предлага детайлно обяснение на основните принципи, методики и интерпретации, които стоят в основата на анализ на повърхности. Читателят ще открие конкретни примери за приложение във металургия, полимери, керамика и катализатори, както и подходи за идентифициране на състава, химичната среда и степента на чистота на повърхностни слоеве. Подходящ е както за аспиранти и изследователи, така и за преподаватели и технически специалисти, които работят с аналитични техники за повърхностен анализ.