Прескочи към информацията за продукта
1 от 1

Антикварен магазин - Катя Маркет

Електроника дефектов в полупроводниках - Г. Матаре (1)

Електроника дефектов в полупроводниках - Г. Матаре (1)

Обичайна цена €27,54 EUR
Обичайна цена Цена при разпродажба €27,54 EUR
Разпродажба Изчерпано
С включени данъци. Доставката се изчислява при плащане.
Количество

Академично издание на тема „Електроника дефектов в полупроводниках“ от автор Г. Матаре, създадено за студенти, научни сътрудници и инженери в областта на физиката на твърдото тяло и микроелектрониката. Тъй като става въпрос за печатно техническо издание на руски език, книгата осигурява директен достъп до оригиналната научна терминология и класически подходи, все още често цитирани в българската и международната университетска практика.

  • Заглавие и авторство: „Електроника дефектов в полупроводниках“ от Г. Матаре — специализиран труд, структуриран върху основните категории на дефектната физика и техните измерими манифестации
  • Език на текста: Руски, с издържана научно-техническа лексика и утвърдени обозначения, които улесняват паралелното четене със западноевропейските и американските учебници по физика на твърдото тяло
  • Тип и формат: Печатна книга от категорията на техническата литература, пригодена за продължително съхранение, библиотечен разход и ежедневна справочна употреба без зависимост от дигитални формати
  • Обхват на темата: Пълно свързване на физиката и електрониката, посветено конкретно на енергийните нива, миграцията и йонизацията на точкови и дисперсни дефекти в полупроводникови кристални решетки

Изборът на този том е обоснован, когато са нужни проверки за фундаментални зависимости между структурните нарушения в материала и крайните му электрооптични характеристики. Текстът действа като стабилен аналитичен инструмент за подготовка на лабораторни работи, за написване на магистърски и докторски дисертации и за професионална ориентация в сферата на сензорната и диодно-транзисторната разработка. Последователното изложение на механизмите за засилване и омекотяване на дефектните състояния позволява на читателя да идентифицира точно кои фактори влияят на плътността на носители заряда и как тези параметри се интегрират в макроскопичните схеми, които управляват съвременните полупроводникови устройства.

Покажи пълните подробности