Полевая йонная микроскопия - Э. В. Мюллер, Т. Т. Цонг

Редка монография, посветена на полевата йонна микроскопия, която ще заинтригува изследователи в материалознанието и нано-науката, както и колекционери на антикварни книги. Тази издание на две влиятелни фигури в областта – Э. В. Мюллер и Т. Т. Цонг – съчетава теоретични основи с практическа реакция върху експериментални подходи в полевата йонна микроскопия.

• Автори: Э. В. Мюллер, Т. Т. Цонг
• Заглавие: Полевая йонная микроскопия
• Издател: Наука
• Год на издаване: 1980
• Език: Руски
• Втор език: Друг
• Издание: Твърда корица
• Страници: 220
• Състояние: Отлично
• Произход на текста: Руски
• Категория: Наука / Техническа литература

За кого е подходяща: тази книга е ценен ресурс за студенти и докторанти in-material science, изследователи, преподаватели и колекционери, които търсят дълбока референция за полевата йонна микроскопия. С дългогодишна репутация в антикварния сегмент, Антикварен магазин - Катя Маркет предлага това издание в отлично състояние, което е удобно за библиотеката на лаборатория или частна колекция.